题名:
集成电路芯片测试   / 主编王芳, 徐振 ,
ISBN:
978-7-308-12976-3 价格: CNY29.00
语种:
chi
载体形态:
182页 图 24cm
出版发行:
出版地: 杭州 出版社: 浙江大学出版社 出版日期: 2014
内容提要:
本书主要集成电路测试从业人员所需的职业道德、C语言、自动分选机、测试机系统及应用以及常用的仪器元件、常见产品测试实例等几个方面着手,比较系统地阐述了成品测试的重要组成步骤,是微电子专业学生进行集成电路测试岗位培训提供必要的知识。 
主题词:
集成电路   芯片
中图分类法:
TN407 版次: 5
主要责任者:
王芳 主编
主要责任者:
徐振 主编
索书号:
5