|
题名:
|
航天电子产品常见质量缺陷案例 / 范燕平，高伟娜著 , |
|
ISBN:
|
978-7-5159-0735-2 价格： CNY50.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
10,179页 图 21cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 中国宇航出版社 出版日期： 2014 |
|
内容提要:
|
本书总结了以往型号用电子产品研制过程中出现的质量问题，包括：设计缺陷、工艺缺陷、电子装联操作缺陷、调试和测试本书质量问题和静电防护等五各方面的内容。 |
|
主题词:
|
航天器 电子器件 |
|
主题词:
|
航天器 |
|
主题词:
|
电子器件 |
|
主题词:
|
质量管理 |
|
中图分类法:
|
V443 版次： 5 |
|
主要责任者:
|
范燕平 著 |
|
主要责任者:
|
高伟娜 著 |
|
附注:
|
航天科技图书出版基金资助出版 |
|
索书号:
|
4 |