|
题名:
|
互换性与测量技术 / 杨玉璋, 张瑞平主编 , |
|
ISBN:
|
978-7-121-22938-1 价格： CNY42.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
256页 图 26cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2014 |
|
内容提要:
|
本书概括了互换性与测量技术课程的主要内容，采用最新国家标准，对机械零件的“精度设计”与测量技术涉及的知识进行了详尽介绍。内容包括测量技术基础、光滑圆柱体结合的公差与配合与检测、形位公差及其检测、表面粗糙度及其检测、光滑工件尺寸的检测、滚动轴承的公差与配合、螺纹的公差配合与检测、圆锥的公差与检测、键和花键的公差与检测、圆柱齿轮传动的公差与检测、尺寸链、公差与配合实验技术。 |
|
主题词:
|
零部件 互换性 |
|
主题词:
|
零部件 测量技术 |
|
中图分类法:
|
TG801-43 版次： 4 |
|
主要责任者:
|
杨玉璋 主编 |
|
主要责任者:
|
张瑞平 主编 |
|
索书号:
|
3 |