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题名:
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Semiconductor test symposium (1975 : Cherry Hill, Newe Jersey) / , Institute of Electrical and electronics Engineers |
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ISBN:
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价格： ￥1.30 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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104 p. |
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出版发行:
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出版地： N. Y. 出版社： IEEE 出版日期： 1975 |
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主要团体责任者:
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Institute of Electrical and Electronics Engineers |
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主要团体责任者:
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Semiconductor test conference |
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索书号:
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1 |