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题名:
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微电子技术的可靠性
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(瑞典) Johan Liu ... [等] 著
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郭福, 马立民译
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ISBN:
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978-7-03-037606-0
价格：
CNY58.00
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语种:
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chi
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载体形态:
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xi, 179页
图
25cm
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出版发行:
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出版地：
北京
出版社：
科学出版社
出版日期：
2013
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主题词:
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微电子技术
可靠性
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中图分类法:
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TN4
版次：
5
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其它题名:
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互连、器件及系统
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主要责任者:
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刘建影
著
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次要责任者:
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郭福
译
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次要责任者:
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马立民
译
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责任者附注:
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责任者汉译名: 刘建影
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