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题名:
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光学测试技术 / 刘承, 张登伟, 张彩妮等编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-20194-3 价格： CNY49.90 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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311页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2013 |
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内容提要:
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本书包括6章内容, 分别为绪论、光干涉技术、光衍射技术、光调制及扫描技术、光纤传感技术和光纳米传感与测量技术。附录A主要讲述光信号的探测方法及其相应电信号的处理方法, 以供读者参考使用。 |
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主题词:
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光学仪器 测试技术 |
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中图分类法:
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TH740.6 版次： 5 |
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主要责任者:
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刘承 编著 |
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主要责任者:
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张登伟 编著 |
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主要责任者:
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张彩妮 编著 |