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题名:
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极限配合与测量技术 / 主编张兆隆, 张晓芳 , |
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ISBN:
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978-7-5640-6875-2 价格： CNY46.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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249页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京理工大学出版社 出版日期： 2012.11 |
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内容提要:
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本书共分为两篇, 第一篇为基础篇, 包括绪论、测量技术基础、尺寸公差与配合、几何公差、表面结构等方面的内容, 第二篇为技能篇, 包括孔轴尺寸测量、几何误差检测等。 |
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主题词:
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公差 配合 |
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主题词:
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技术测量 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 5 |
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主要责任者:
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张兆隆 主编 |
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主要责任者:
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张晓芳 主编 |
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附注:
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高等院校“十二五”精品课程建设成果 |