题名:
Optical characterization techniques for semiconductor technology (1981 : Calif.)   / Ed. by D. E. Aspnes ,
ISBN:
价格: ¥4.10
语种:
eng
载体形态:
262 p.
出版发行:
出版地: Bellingham 出版社: SPIE 出版日期: 1981
主要责任者:
Aspnes
主要团体责任者:
Optical characterization technique for semiconductor technology
索书号:
1