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题名:
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International Test Conference (1985) / , |
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ISBN:
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价格： ￥35.10 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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988 p. |
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出版发行:
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出版地： N. Y. 出版社： IEEE 出版日期： 1985 |
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其它题名:
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The future of test : proceedings |
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主要团体责任者:
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International Test Conference |
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索书号:
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1 |