|
题名:
|
Point defects in semiconductors / Michel Lannoo and Jacques Bourgoin , |
|
ISBN:
|
价格： ￥1.70 |
|
语种:
|
eng |
|
载体形态:
|
295 p. |
|
出版发行:
|
出版地： Berlin 出版社： Springer-Verlag 出版日期： 1983 |
|
其它题名:
|
Experimental aspects |
|
主要责任者:
|
Lannoo |
|
主要责任者:
|
Bourgoin |
|
索书号:
|
1 |