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题名:
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低功耗验证方法学 / (美) Srikanth Jadcherla[等] 著 , 刘雷波, 夏宇闻译 |
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ISBN:
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978-7-5124-0849-4 价格： CNY32.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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180页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京航空航天大学出版社 出版日期： 2012 |
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内容提要:
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本书分析归纳了多电压低功耗设计仿真验证技术中几乎所有的关键问题, 并提出了十分重要的设计验证原则和规范。 |
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主题词:
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电路设计 |
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中图分类法:
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TM02 版次： 5 |
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主要责任者:
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迦奇拉 著 |
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主要责任者:
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伯杰龙 著 |
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主要责任者:
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Inoue, 著 |
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主要责任者:
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弗林 著 |
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次要责任者:
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刘雷波 译 |
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次要责任者:
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夏宇闻 译 |
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责任者附注:
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Jadcherla规范汉译姓: 迦奇拉, Bergeron规范汉译姓: 伯杰龙, Flynn规范汉译姓: 弗林 |