|
题名:
|
International Test Conference (1984) / , |
|
ISBN:
|
价格： ￥ |
|
语种:
|
eng |
|
载体形态:
|
886 p. |
|
出版发行:
|
出版地： N. Y. 出版社： IEEE 出版日期： 1984 |
|
其它题名:
|
The three faces of test : deisgn, characterization, production, |
|
附注:
|
Cover titil : IEEE 1984 Test Conference |
|
主要团体责任者:
|
International Test Conference |
|
索书号:
|
1 |