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题名:
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IEEE 1981 International Test Conference / , |
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ISBN:
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价格： ￥9.10 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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568 p. |
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出版发行:
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出版地： N. Y. 出版社： IEEE 出版日期： 1981 |
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其它题名:
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Testing in the 80`s. Digest of Papers |
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主要团体责任者:
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Institute of Electrical and Electronics Engineers |
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主要团体责任者:
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IEEE 1981 International Test Conference |
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索书号:
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1 |