|
题名:
|
Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices (1987 ) / Ed. O. J. Glembocki etc. , sponsored by SPIE |
|
ISBN:
|
价格： ￥26.40 |
|
语种:
|
eng |
|
载体形态:
|
282 p. |
|
出版发行:
|
出版地： Bellingham 出版社： SPIE 出版日期： 1987 |
|
主要责任者:
|
Glembocki |
|
索书号:
|
1 |