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题名:
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International Test Conference (1989 : Wash. D. C.) / , |
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ISBN:
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价格： ￥92.80 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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959 p. |
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出版发行:
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出版地： Wash. D. C. 出版社： Computer Society Pr. of the IEEE 出版日期： 1989 |
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其它题名:
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Meeting the tests of time |
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主要团体责任者:
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International Test Conference |
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索书号:
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1 |