|
题名:
|
纳米数字集成电路老化效应 / 靳松，韩银和著 , |
|
ISBN:
|
978-7-302-28543-4 价格： CNY21.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
108页 23cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 2012 |
|
内容提要:
|
本书介绍了NBTI效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响，从提高NBTI效应影响下电路可靠性的角度，论述了相应的硅前分析、在线预测和优化方法。 |
|
主题词:
|
纳米材料 数字集成电路 |
|
主题词:
|
纳米材料 |
|
主题词:
|
数字集成电路 |
|
主题词:
|
老化 |
|
中图分类法:
|
TN431.2 版次： 5 |
|
其它题名:
|
分析、预测及优化 |
|
主要责任者:
|
靳松 著 |
|
主要责任者:
|
韩银和 著 |