题名:	Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM) / Yonghua Rong ,
ISBN:	978-7-04-030092-5 价格： CNY119.00
语种:	eng
载体形态:	xviii, 552页图 25cm
出版发行:	出版地：北京出版社：高等教育出版社出版日期： 2012
内容提要:	本书系统地介绍了分析电子显微学(AEM)的基本概念和操作技术，聚焦于相变和形变中位错的AEM研究。同时通过大量的例子阐述衍射和晶体雪的物理概念和数学分析方法，例如相变中位向关系的定量预测等。
主题词:	电子显微镜分析英文
中图分类法:	O657.99 版次： 4
主要责任者:	戎咏华著
版次:	英文版
责任者附注:	戎咏华，上海交通大学材料科学与工程学院教授。