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题名:
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Transmission electron microscopy / David B. Williams, C.Baryy Carter , |
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ISBN:
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978-7-302-15529-4 价格： CNY89.00 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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27, 729页 图 28cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 2007 |
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内容提要:
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本书分为基本概念、衍射理论、成像原理和能谱分析四卷内容, 讲解了电子显微镜的基本概念 ; 介绍了衍射图像、例易点阵、衍射电子像的标定, 以及各种衍射分析方法 ; 阐述了成像原理, 对材料研究中典型的课题 ; 讨论了各种能谱的分析方法和技术。 |
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主题词:
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透射电子显微术 高等学校 |
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中图分类法:
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TN16 版次： 4 |
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主要责任者:
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威廉斯 著 |
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主要责任者:
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卡特 著 |
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版次:
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影印版 |