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语种:
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eng |
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中图分类法:
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TN304.01 版次： |
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中图分类法:
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O471 版次： |
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题名:
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Characterization of semiconductor heterostructures and nanostructures = [ 半导体异质结构与纳米结构表征 /] / , |
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其它题名:
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半导体异质结构与纳米结构表征 |
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版次:
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1st ed. |
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出版发行:
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出版地： 北京 : 出版社： 科学出版社, 出版日期： 2010. |
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载体形态:
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ix, 486 p., : ill. ; 25 cm. |