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题名:
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软件缺陷模式与测试 / 宫云战等著 , |
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ISBN:
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978-7-03-031726-1 价格： CNY56.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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268页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2011 |
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内容提要:
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本书全面论述了基于缺陷模式软件测试的一般方法，包括软件缺陷的综合论述、面向C/C++/Java的软件缺陷模式的分类、各种软件缺陷模式的定义、基于缺陷模式的软件测试原理、提高测试精度的区间运算技术、敏感路径分析技术、函数间分析技术等。 |
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主题词:
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软件 测试 |
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中图分类法:
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TP311.5 版次： 5 |
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主要责任者:
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宫云战 著 |
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责任者附注:
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编著者有：杨朝红，金大海，肖庆，王雅文 |