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题名:
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高可靠性航空产品试验技术 / 李金国等编著 , |
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ISBN:
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978-7-118-07191-7 价格： CNY48.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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XVII, 329页 图 21cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2011.01 |
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内容提要:
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本书共分为9章, 其内容包括: 导论、可靠性增长试验、可靠性增长摸底试验、环境应力筛选、加速试验、高加速寿命试验、可靠性鉴定试验等。 |
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主题词:
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航天器 电子器件 |
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中图分类法:
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V443 版次： 4 |
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主要责任者:
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李金国 编著 |