题名:
工程测试与信息处理
/ 狄长安[等] 编著 ,
ISBN:
978-7-118-06620-3 价格： CNY36.00(含光盘)
语种:
chi
载体形态:
328页 26cm 光盘1张
出版发行:
出版地： 出版社：
国防工业出版社
出版日期： 2010
中图分类法:
TP274 版次： 4
主要责任者:
狄长安
编著
版次:
2版
附注:
普通高等院校机械类"十一五"规划教材