题名:
全面的功能验证   / (美)Bruce Wile,(美)John C.Goss,(美)Wolfgang Roesner著 , 沈海华,乐翔译
ISBN:
978-7-111-29641-6 价格: CNY98.00
语种:
chi
载体形态:
21,487页 图 24cm
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 机械工业出版社 出版日期: 2009
内容提要:
本书介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念,以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元,关注了基于模拟的验证方法和形式验证方法。研究了回归测试和“逃逸”错误分析等。 
主题词:
集成电路   芯片
中图分类法:
TN402 版次: 4
其它题名:
完整的工业流程
主要责任者:
威立
主要责任者:
戈斯
主要责任者:
勒斯纳
次要责任者:
沈海华
次要责任者:
乐翔