中图分类法:	TB383 版次：
著者:	Alford, Terry L.
题名:	Fundamentals of nanoscale film analysis = [ 纳米薄膜分析基础 /] / ,
其它题名:	纳米薄膜分析基础
出版发行:	出版地：北京 : 出版社：科学出版社, 出版日期： 2008.
载体形态:	xii, 336 p. : ill. ; 25 cm.
主题词:	Thin films.
主题词:	Nanostructured materials.
主要责任者:	Feldman, Leonard C.
主要责任者:	Mayer, James W.,