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题名:
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公差与技术测量 / 杨好学, 蔡霞主编 , |
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ISBN:
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978-7-118-06232-8 价格： CNY26.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xi, 224页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2009 |
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内容提要:
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本书采用最新的国家标准, 介绍新国家标准的规定与应用。本书共7章, 主要内容包括: 绪论、极限与配合、测量技术基础、几何公差、表面粗糙度、普通结合件的互换性、典型零件的公差与测量。每章均有小结, 还附有相关的公差表格和思考题与习题。 |
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主题词:
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公差 配合 |
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主题词:
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技术测量 高等学校 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 4 |
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主要责任者:
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杨好学 主编 |
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主要责任者:
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蔡霞 主编 |
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附注:
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普通高等教育“十一五”规划教材 面向应用型人才培养 |