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题名:
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现行光学元件检测与国际标准 / 徐德衍 ... [等] 编著 , |
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ISBN:
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978-7-03-025083-4 价格： CNY50.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xiii, 302页 图 23cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2009 |
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内容提要:
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本书重点介绍光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章, 主要论述了现代光学元件的发展对光学元件检测的需求; 计量概念与误差理论及精度的必要知识; 光学元件检测基础; 光学元件的参数检测和性能检测的现行技术, 侧重对特殊元件、光学表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等内容的叙述; 介绍了光学元件技术要求和检测要求的国际标准 (ISO10110) 的最新内容和相关的辅助资料。 |
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主题词:
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光学元件 检测 |
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主题词:
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光学元件 国际标准 |
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中图分类法:
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TH74 版次： 4 |
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主要责任者:
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徐德衍 编著 |
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主要责任者:
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王青 编著 |
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主要责任者:
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高志山 编著 |