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ISBN:
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1076-5670 价格： |
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中图分类法:
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O43 版次： |
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题名:
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Advances in imaging and electron physics. / , |
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其它题名:
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Aberration-corrected electron microscopy |
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出版发行:
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出版地： Amsterdam : 出版社： Elsevier, 出版日期： c2008. |
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载体形态:
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xv, 538 p., [16] p. of plates : ill. (some col.) ; 24 cm. |
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主题词:
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Optoelectronic devices. |
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主题词:
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Optical data processing. |
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主要责任者:
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Hawkes, Peter W.. |