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题名:
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表面分析 (XPS和AES) 引论 / 原著 (英) John F. Watts, John Wolstenholme , 译吴正龙 |
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ISBN:
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978-7-5628-2226-4 价格： CNY28.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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144页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 华东理工大学出版社 出版日期： 2008.01 |
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内容提要:
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本书讲述了现代电子能谱中的单色化XPS、小面积XPS（SAXPS) 、成像XPS、XPS深度剖析、场发射AES/SAM等功能的分析技术, 以及在冶金、腐蚀、陶瓷、催化剂、微电子半导体材料等领域中的应用。 |
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主题词:
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表面分析 概论 |
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中图分类法:
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O655.9 版次： 4 |
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主要责任者:
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沃茨 原著 |
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主要责任者:
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沃斯滕霍姆 原著 |
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次要责任者:
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吴正龙 译 |
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责任者附注:
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Watts规范汉译姓: 沃兹 Wolstenholme规范汉译姓: 沃斯滕霍姆 |