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题名:
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X射线衍射分析技术 / 晋勇, 孙小松, 薛屺编著 , |
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ISBN:
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978-7-118-05778-2 价格： CNY39.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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302页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2008 |
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内容提要:
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本书内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等共10章及附录。 |
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主题词:
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X射线衍射分析 |
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中图分类法:
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O657.39 版次： 4 |
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主要责任者:
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晋勇 编著 |
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主要责任者:
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孙小松 编著 |
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主要责任者:
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薛屺 编著 |