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题名:
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集成电路测试技术基础
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姜岩峰, 张晓波, 杨兵编著
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ISBN:
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978-7-122-02948-5
价格：
CNY26.00 (含光盘)
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语种:
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chi
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载体形态:
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170页
图
24cm
光盘1片
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出版发行:
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出版地：
北京
出版社：
化学工业出版社
出版日期：
2008.09
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内容提要:
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本书主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。
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主题词:
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集成电路
测试
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中图分类法:
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TN407
版次：
4
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主要责任者:
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姜岩峰
编著
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主要责任者:
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张晓波
编著
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主要责任者:
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杨兵
编著
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