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题名:
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混合信号集成电路测试与测量 / (美) Mark Burns, Gordon W. Roberts著 , 冯建华, 肖钢等译 |
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ISBN:
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978-7-121-08293-1 价格： CNY69.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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15, 531页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2009.03 |
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内容提要:
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本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法, 是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。 |
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主题词:
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混合集成电路 测试技术 |
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中图分类法:
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TN450.7 版次： 4 |
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主要责任者:
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伯恩斯 著 |
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主要责任者:
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罗伯茨 著 |
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次要责任者:
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冯建华 译 |
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次要责任者:
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肖钢 译 |
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责任者附注:
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Burns规范汉译姓: 伯恩斯 Roberts规范汉译姓: 罗伯茨 |