题名:
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半导体材料与器件表征技术
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(美)Dieter K. Schroder著
,
大连理工大学半导体研究室译
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ISBN:
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978-7-5611-4138-0
价格:
CNY99.80
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语种:
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chi
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载体形态:
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20,542页
图
24cm
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出版发行:
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出版地:
大连
出版社:
大连理工大学出版社
出版日期:
2008
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内容提要:
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本书共10章,包括:电阻率,载流子和掺杂浓度,接触电阻、肖特基势垒及电迁移,串联电阻、沟道长度与宽度、阈值电压及热载流子等内容。
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主题词:
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半导体材料
研究
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中图分类法:
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TN304
版次:
4
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主要责任者:
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施罗德
著
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主要团体责任者:
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大连理工大学
译
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