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题名:
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最新集成电路测试技术 / 高成, 张栋, 王香芬编著 , |
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ISBN:
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978-7-118-06071-3 价格： CNY35.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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290页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2009.02 |
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内容提要:
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本书系统介绍了常用集成电路测试的原理、作用、方法、技术，范围涵盖数字集成电路、存储器、模拟集成电路、数字/模拟混合电路、SOC器件、DC-DC模块、电源模块。 |
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主题词:
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集成电路 测试 |
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中图分类法:
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TN407 版次： 4 |
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其它题名:
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集成电路测试技术 |
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主要责任者:
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高成 编著 |
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主要责任者:
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张栋 编著 |
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主要责任者:
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王香芬 编著 |