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题名:
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集成电路系统设计、验证与测试 / (美) Louis Scheffer, Luciano Lavagno, Grant Martin著 , 陈力颖, 王猛译 |
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ISBN:
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978-7-03-021490-4 价格： CNY62.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xiv, 475页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2008 |
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内容提要:
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本书内容涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计，设计与验证语言，数字仿真，并详细分析了基于声明的验证，DET，而且专门探讨了ATPG，以及模拟和混合信号测试等。 |
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主题词:
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集成电路 电路设计 |
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中图分类法:
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TN402 版次： 4 |
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其它题名:
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集成电路系统设计验证与测试 |
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主要责任者:
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谢弗 著 |
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主要责任者:
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拉瓦尼奥 著 |
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主要责任者:
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马丁 著 |
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次要责任者:
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陈力颖 译 |
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次要责任者:
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王猛 译 |
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责任者附注:
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责任者(Scheffer)、(Lavagno)、(Martin)规范汉译姓：谢弗，拉瓦尼奥，马丁 |