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题名:
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精密和超精密加工在位检测与误差分离技术 / 李圣怡，戴一帆，解旭辉编著 , |
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ISBN:
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978-7-81099-398-2 价格： CNY32.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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385页 图 22cm |
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出版发行:
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出版地： 长沙 出版社： 国防科技大学出版社 出版日期： 2007.10 |
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内容提要:
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本书重点介绍精密和超精密机床在位检测与误差分离技术。主要包括了电容传感器、电感传感器、基于同心圆光栅莫尔条纹图像处理的二自由度误差测量系统和大量程纳米级光栅位移测量系统等四种测量仪器基本原理和改进措施等内容。 |
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主题词:
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精密切削 |
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中图分类法:
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TG506 版次： 4 |
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主要责任者:
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李圣怡 编著 |
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主要责任者:
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戴一帆 编著 |
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主要责任者:
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解旭辉 编著 |
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附注:
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国防科技大学学术著作专项经费资助出版 |
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索书号:
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7 |