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题名:
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电子系统测试原理 / (美) Samiha Mourad, Yervant Zorian著 , 张威, 王仲等译 |
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ISBN:
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7-111-19808-5 价格： CNY39.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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296页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2007.1 |
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内容提要:
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本书全面阐述了电子系统测试原理，共分五个部分，第1部分介绍了本书的目的、电子产品的缺陷种类、VLSI设计表示与设计流程；第2部分介绍故障模拟、测试码产生及电流测试方法；第3部分讨论易测性设计问题，分别介绍了专用技术、路径扫描设计；第4部分介绍特殊结构的测试；第5部分涉及当前电子系统测试领域中的前沿问题。 |
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主题词:
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电子系统 测试技术 |
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中图分类法:
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TN06 版次： 4 |
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主要责任者:
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莫瑞达 著 |
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主要责任者:
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佐瑞安 著 |
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次要责任者:
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张威 译 |
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次要责任者:
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王仲 译 |