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题名:
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Ellisometry and other optical methods for surface and thin film analysis (1983 : Paris) / , |
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ISBN:
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价格： ￥6.30 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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533 p. |
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出版发行:
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出版地： Paris 出版社： Editions de physique 出版日期： 1984 |
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主要团体责任者:
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Ellisometry and other optical methods for surface and thin film analysis |