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题名:
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Automated inspection and measurement (1988: Cambridge) / J. W. Chen , |
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ISBN:
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价格： ￥20.70 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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255 p. |
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出版发行:
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出版地： Wash. 出版社： SPIE 出版日期： 1988 |
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主要责任者:
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Chen |