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题名:
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光电子器件微波封装和测试 / 祝宁华著 , |
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ISBN:
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978-7-03-019198-4 价格： CNY48.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xiv, 292页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2007 |
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内容提要:
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全书共十一章，内空包括半导体激光器、光调制器和光探测器、三种典型高速光电子器件的微波封装设计、网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法等。 |
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主题词:
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光电器件 封装工艺 |
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主题词:
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光电器件 测试技术 |
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中图分类法:
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TN36 版次： 4 |
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主要责任者:
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祝宁华 著 |
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附注:
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中国科学院科学出版基金资助出版 “十一五”国家重点图书出版规划项目 |