题名:
电子元器件可靠性设计
/ 王蕴辉, 于宗光, 孙再吉主编 ,
ISBN:
978-7-03-019638-5 价格： CNY49.90
语种:
chi
载体形态:
514页 图 24cm
出版发行:
出版地： 北京 出版社：
科学出版社
出版日期： 2007
主题词:
电子元件
可靠性
中图分类法:
TN602 版次： 4
主要责任者:
王蕴辉
主编
主要责任者:
于宗光
主编
主要责任者:
孙再吉
主编