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题名:
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半导体测试技术原理与应用 / 刘新福, 杜占平, 李为民编著 , |
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ISBN:
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978-7-5024-4101-2 价格： CNY28.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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XII, 304页 图 21cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 冶金工业出版社 出版日期： 2007 |
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内容提要:
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本书以半导体测试技术及测试技术的改进为基础，介绍微区薄层电阻多种测试方案的实施与应用，共十一章。 |
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主题词:
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半导体材料 参数测试 |
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中图分类法:
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TN304.07 版次： 4 |
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主要责任者:
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刘新福 编著 |
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主要责任者:
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杜占平 编著 |
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主要责任者:
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李为民 编著 |
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附注:
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天津市科协自然科学学术专著基金资助出版 |