题名:	互换性与技术测量基础 / 主编柳晖 ,
ISBN:	7-5628-1812-6 价格： CNY25.00
语种:	chi
载体形态:	243页图 26cm
出版发行:	出版地：上海出版社：华东理工大学出版社出版日期： 2006
主题词:	公差理论
主题词:	技术测量高等学校
中图分类法:	TG8-43 版次： 4
主要责任者:	柳晖主编