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题名:
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电子元器件失效分析与典型案例
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孔学东，恩云飞主编
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ISBN:
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7-118-04619-1
价格：
CNY150.00
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语种:
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chi
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载体形态:
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XII, 260页
彩图
26cm
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出版发行:
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出版地：
北京
出版社：
国防工业出版社
出版日期：
2006
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内容提要:
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本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。内容包括：失效分析程序、失效分析技术、集成电路的失效分析典型案例等。
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主题词:
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电子元件
失效分析
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中图分类法:
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TN601
版次：
4
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主要责任者:
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孔学东
主编
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主要责任者:
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恩云飞
主编
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