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题名:
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数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计
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（美）克拉茨（Crouch,A.L.）著
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何虎，马立伟等译
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ISBN:
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7-111-18706-7
价格：
CNY38.00
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语种:
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chi
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载体形态:
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284页
26cm
含光盘
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出版发行:
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出版地：
北京
出版社：
机械工业出版社
出版日期：
2006.5
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主题词:
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数字集成电路
测试
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主题词:
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微计算机系统
测试
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中图分类法:
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TN431.2
版次：
4
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中图分类法:
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TP368
版次：
4
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主要责任者:
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克拉茨
著
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次要责任者:
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何虎
等译
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次要责任者:
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马立伟
等译
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次要责任者:
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孙义和
审校
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