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题名:
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数字系统测试与可测试设计 / (美) Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman著 , 李华伟, 鲁巍译 |
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ISBN:
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7-111-19237-0 价格： CNY56.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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449页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2006 |
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主题词:
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数字系统 测试技术 |
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中图分类法:
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TP271 版次： 4 |
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主要责任者:
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阿布拉莫维奇 著 |
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主要责任者:
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布鲁尔, 著 |
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主要责任者:
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弗里德曼, 著 |
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次要责任者:
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李华伟 译 |
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次要责任者:
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鲁巍 译 |
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责任者附注:
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编目员自译责任者 (Abramovici) 汉译姓: 阿布拉莫维奇 |