题名:
VLSI测试方法学和可测性设计
/ 雷绍充, 邵志标, 梁峰著 ,
ISBN:
7-121-00379-1 价格： CNY29.80
语种:
chi
载体形态:
286页 图 26cm
出版发行:
出版地： 北京 出版社：
电子工业出版社
出版日期： 2005
主题词:
超大规模集成电路
测试技术
主题词:
超大规模集成电路
测试
中图分类法:
TN470.7 版次： 4
主要责任者:
雷绍充
著
主要责任者:
邵志标
著
主要责任者:
梁峰
著