题名:	可靠性试验 / 刘明治编著 ,
ISBN:	7-121-00210-8 价格： CNY45.00
语种:	chi
载体形态:	332页图 24cm
出版发行:	出版地：北京出版社：电子工业出版社出版日期： 2004
主题词:	电子元件可靠性试验
中图分类法:	TN6-33 版次： 4
主要责任者:	刘明治编著