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中图分类法:
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O174.2 版次： |
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题名:
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Sampling, wavelets, and tomography / / , |
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出版发行:
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出版地： Boston : 出版社： Birkh?user, 出版日期： c2004. |
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载体形态:
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xxi, 344 p. : ill. ; 25 cm. |
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主题词:
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Harmonic analysis. |
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主题词:
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Wavelets (Mathematics) |
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主题词:
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Fourier analysis. |
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主题词:
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Sampling (Statistics) |
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主题词:
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Tomography. |
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主要责任者:
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Benedetto, John. |
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主要责任者:
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Zayed, Ahmed I. |