中图分类法:
TP31 版次:
著者:
Gizopoulos, Dimitris.
题名:
Embedded processor-based self-test / / ,
出版发行:
出版地: Boston : 出版社: Kluwer Academic Publishers, 出版日期: c2004.
载体形态:
xiv, 216 p. : ill. ; 25 cm.
主题词:
Electronic circuits Testing.
主题词:
Computer engineering.
主要责任者:
Paschalis, Antonis.
主要责任者:
Zorian, Yervant.