题名:
公差与技术测量
/ 周勤芳主编 ,
ISBN:
7-313-02618-8 价格： CNY21.00
语种:
chi
载体形态:
236页 图 26cm
出版发行:
出版地： 上海 出版社：
上海交通大学出版社
出版日期： 2004
内容提要:
本书分: 互换性与标准的基本概念, 光滑圆柱体结合的极限与配合, 形状和位置公差及其检测, 表面粗糙度及检测, 测量技术基础, 滚动轴承的公差与配合等章。
主题词:
公差
高等教育
主题词:
技术测量
高等教育
中图分类法:
TG801 版次： 4
主要责任者:
周勤芳
主编
版次:
第2版